AJ laboratorinės elektroninės svarstyklės

ES metrologinė patikra (CE M )

• Japonų gamybos laboratorinės svarstyklės su išoriniu/vidiniu kalibravimu;
• Naujos kartos MMTS jutiklis, patentuotas gamintojo;
• Procentų, vienetų skaičiavimo bei dozavimo rėžimai ir kt.;
• Platforma iš nerūdijančio plieno; RS – 232 sąsaja;
• Galima papildoma įranga pagal pirkėjo užsakymą (papildomas ekranas SDI/SDR,spausdintuvas ir kt.);
• Svarstyklės sertifikuotos Europos Bendrijoje. Parduodamos su atlikta pirmine EB tipo metrologine patikra.